초음파 위상 배열
초음파 위상배열 기술의 기본 아이디어는 레이더 전자파 위상배열 기술에서 비롯됩니다. 위상 배열 레이더는 배열로 배열된 많은 방사 요소로 구성됩니다. 어레이 안테나의 각 요소의 진폭과 위상을 제어하여 전자파의 방사 방향을 조정하여 특정 공간 내에서 유연하고 빠른 포커싱 및 스캐닝 레이더 빔을 합성할 수 있습니다. 초음파 위상 배열 변환기는 여러 개의 독립적인 압전 웨이퍼로 구성됩니다. 전자 시스템은 특정 규칙과 타이밍에 따라 각 웨이퍼 유닛을 제어하고 여기하여 초점 위치와 초점 방향을 조정하고 제어합니다.
초음파 위상 배열은 초음파 프로브 웨이퍼의 조합입니다. 다수의 압전 웨이퍼가 일정한 규칙적인 분포로 배열된 후, 각 웨이퍼는 미리 정해진 지연 시간에 따라 순차적으로 여기된다. 모든 웨이퍼에서 방출되는 초음파는 전체 파면을 형성하여 효과적일 수 있습니다. 전송된 초음파 빔(파면)의 모양과 방향의 그라운드 제어는 초음파 빔의 스캐닝, 편향 및 집속을 실현할 수 있습니다. 불연속의 모양, 크기 및 방향을 결정하기 위해 단일 또는 다중 프로브 시스템보다 더 큰 기능을 제공합니다.
초음파 위상 배열 감지 기술은 다양한 모양의 다중 요소 변환기를 사용하여 초음파 빔을 생성하고 수신합니다. 펄스를 전송(또는 수신)하기 위해 변환기 어레이의 각 요소의 서로 다른 지연 시간을 제어함으로써 음파의 도달(또는 출발)이 변경될 수 있습니다. 물체의 특정 지점에서의 위상 관계는 초음파 빔의 스캐닝, 편향 및 포커싱을 실현하기 위해 사운드 빔의 초점과 방향의 변화를 실현합니다. 그런 다음 기계 스캐닝과 전자 스캐닝을 조합하여 이미지 이미징을 구현합니다.
일반적으로 1차원 선형 어레이 프로브가 사용되며 압전 웨이퍼는 직선으로 배열되며 집속된 음장은 2차원 결함 이미지를 얻을 수 있는 시트 모양이며 산업에서 널리 사용됩니다.
Phased Array Probe를 사용하여 용접을 감지할 때 일반적인 단일 프로브와 같이 용접의 양쪽에서 앞뒤, 좌우로 자주 이동할 필요가 없으며 Phased Array Probe는 용접부의 길이를 따라 선형 스캐닝을 수행합니다. 용접에 평행하게 용접하십시오. 용접 조인트의 전체 볼륨 검사. 이 스캐닝 방법은 어레이 프로브가 장착된 기계식 스캐너를 사용하여 정밀한 위치의 트랙을 따라 슬라이딩하여 완료하거나 수동으로 완료할 수 있어 빠른 감지를 실현할 수 있고 감지 효율이 매우 높습니다.
